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Mémoire de Maîtrise
DOI
10.11606/D.3.2011.tde-15032012-120402
Document
Auteur
Nom complet
Joel Iván Muñoz Quispe
Adresse Mail
Unité de l'USP
Domain de Connaissance
Date de Soutenance
Editeur
São Paulo, 2011
Directeur
Jury
Wang, Jiang Chau (Président)
Fernandes, Antônio Otávio
Pires, Ricardo
Titre en portugais
Ferramenta CAD para extração de modelo de cobertura de saída por itens em verificação funcional.
Mots-clés en portugais
CAD para verificação
Cobertura
Microeletrônica
SystemC
Verificação funcional
Resumé en portugais
Nos ambientes de desenvolvimento de sistemas integrados da atualidade, os requisitos dos sistemas devidos ao alto grau de funcionalidades incorporadas vêm-se incrementando, gerando uma alta complexidade nos projetos. Isto traz como consequência o aumento na quantidade de ciclos dentro do fluxo de projeto. Uma solução tem sido o uso de blocos IP para acelerar o desenvolvimento. Entretanto, para garantir um grau elevado de confiabilidade destes componentes, os processos de verificação devem comprovar que todas as propriedades do circuito estejam sendo cumpridas. Uma das técnicas utilizadas para isto é verificação funcional por simulação, que procura explorar, através da injeção de vetores de teste, a maior porção possível de todo o espaço de estados do circuito. Quanto maior o número de estados possíveis, maior o número de vetores de testes que devem ser inseridos. Portanto, o número de vetores de teste deve ser reduzido de forma considerável, entretanto, por este fato, métricas para determinar a completeza do processo de verificação, definidas como modelos de cobertura, têm sido necessárias. As métricas de cobertura são estabelecidas segundo as estratégias de observação do projeto sob verificação, DUV, sendo bastante comum na indústria a de caixa preta que tem como objetivo a estimulação das entradas e a observação dos eventos de saída do DUV. Neste caso, para determinar se o sistema cumpre com as especificações, o engenheiro de verificação, deve definir os eventos à saída que considera relevantes e as métricas para determinar a quantidade de vezes que devem ser observadas. Este tipo de modelagem é conhecido como cobertura por itens. A quantidade de itens e os eventos a serem observados podem ser dfinidos pelo conhecimento especialista, dos engenheiros de verificação ou, para simplificar esta tarefa, uma distribuição uniforme é adotada. Como estas formas de modelagem não abstraem todas as propriedades do circuito, o perfil da distribuição de valores dos eventos (parâmetros) escolhidos, em geral, não estão correlacionados com o perfil real verficado durante a execução dos testbenches , tendo como consequência o aumento dos tempos de simulação. Para tratar do problema acima, o presente trabalho tem como objetivo geral o desenvolvimento de uma metodologia para obter um modelo de cobertura de saída que apresente um perfil de distribuição semelhante ao real e que, assim, assista o engenheiro de verificação na seleção dos pontos ou intervalos de saída de interesse, adicionado-os às decisões derivadas de seu conhecimento especialista. Pela metodologia utilizada, encontra-se a(s) equação(ões) que define(m) a(s) saída(s) do circuito sob verificação e, a partir destas, a distribuição probabilística por evento observável. No centro da metodologia está a ferramenta PrOCov (Probabilistic Output Coverage), projetada com os objetivos acima. A metodologia e a ferramenta foram testadas com alguns exemplos de circuitos, modelos em alto nível do filtro FIR, do processador FFT e do filtro Elliptic, todos descritos em SystemC. Nos três casos testados, o PrOCov encontrou satisfatoriamente os respectivos perfis de saída. Estes foram comparados com os perfis obtidos por simulação, mostrando que uma excelente precisão pode ser obtida; apenas pequenas variações foram encontradas devidas a erros de aproximação. Também variações de precisão e tempo de simulação em função da resolução dos parâmetros de saída (eventos) foram analisadas nesta dissertação.
Titre en anglais
CAD tool for output coverage model extraction in functional verification.
Mots-clés en anglais
CAD for verification
Coverage
Functional verification
Microelectronics
SystemC
Resumé en anglais
In current integrated system development environments, the requirements for the design of multi-function systems have increased constantly. Consequently, the number of iterations in the design flow has also grown. A solution for this problem has been the use of IP-cores to speed up the hardware development. However, to guarantee high level of reliability for these components, the verification process has to be kept strict in other to prove if the all system properties have been satisfied. The mainstream technique that has been used in the industry for the verification process is the dynamic functional verification. It aims to explore, by test vector injection, all the state space of the circuit. The higher the number of possible states, the higher the number of test vectors to be inserted. Therefore, the number of test vectors must be kept as low as possible. Due to that, completion and sufficiency metrics, identified as the coverage model, should be carefully defined. The coverage metrics are established according the observation strategies of the design under verification, DUV, where the black box approach is very common in the industry, being aimed at the stimulation of the inputs and observing the events of the DUV output. To determine whether the system meets the specifications, the verification engineer must define the events (s)he considers relevant at the output and the metrics used to determine the amount of times that the results must be observed. This type of modeling is known as item coverage. The amount of items and events to be observed may be defined by the experience of the engineer, but in most cases, to simplify this task, a uniform distribution is adopted. Those forms of modeling do not abstract the functionality of the circuit, then, the probability distribution of the chosen events is uncorrelated to the real simulated distribution, when the testbenchs are implemented. Therefore, the resulting simulation time increases. To solve the problem that is mentioned above, this work aims the development of a methodology to compute the output coverage, which should be similar to the real output value distribution and thus assist the engineer in the selection of the proper check points or output ranges of interest, by adding them to the decisions derived from his(her) knowledge. This methodology finds the equations that represent the outputs of the DUV and, from them, it computes the output probabilistic distribution. At the core of this methodology is the PrOCov (Probabilistic Output Coverage) tool, which was developed with the goals above. Both methodology and tool were tested with three circuits described in high level language, the FIR filter, FFT processor and Elliptic filter, written in SystemC. In all three cases, PrOCov presented a satisfactorily output distribution. Excellent precision could be achieved by the results, with only small variations found due to approximation errors. Also variations of accuracy and simulation time due to different resolutions of the output parameters (events) were analyzed in this dissertation.
 
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Date de Publication
2012-04-11
 
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  • QUISPE, JOEL IVAN MUNOZ, STRUM, Marius, and Chau, Wang Jiang. PrOCov: Probabilistic output coverage model [doi:10.1109/LATW.2013.6562664]. In 2013 14th Latin American Test Workshop LATW, Cordoba, 2013. 2013 14th Latin American Test Workshop - LATW. : IEEE, 2013.
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