É apresentado o conceito de módulo multichip e suas características. As implicações dessas características em termos de complexidade para a realização de testes dos módulos são analisadas. É feita uma introdução ao padrão ieee 1149.1 para uma arquitetura de teste através de Boundary-scan. A partir deste padrão é desenvolvida uma aplicação voltada para o teste de módulos multichip. Esta aplicação envolve a implementação das instruções obrigatórias e de duas opcionais, incluindo a de auto-teste. Além disso são propostas duas novas instruções voltadas para aplicação em módulos multichip. É descrita a teoria utilizada para a implementação do auto-teste e como ela pode ser aplicada. Os circuitos projetados para a execução dos testes são descritos. Também é introduzido um circuito exemplo, utilizado para verificação dos resultados. Os resultados finais são apresentados em termos de funcionalidade e tamanho dos circuitos projetados expresso em número de gates equivalentes e área.

The concept of multichip modules and its characteristics are presented. The consequences of such characteristics in terms of the modules testing complexity are analyzed. The standar IEEE 1149.1 for test using a boundary-scan architecture is introduced. An aplnacation for multichip modules testing is developed based on this standard. This application includes the implementation of the mandatory instructions and two optional, including self-test. Besides those, two additional instructions aiming multichip modules are proposed. The theory used fot the self-test implementation and how it can be applied is descripted. The circuits designed for the tests execution are depicted. A sample circuit used for results verification is introduced. The final results are presented in terms of functionality and the designed circuits size, expressed in equivalente gates as well as area.