Microestruturas estratificadas sintéticas (MES) são dispositivos constituídos de camadas alternadas de dois materiais, com alto e baixo número atômico. Para aplicações em óptica de raios-x, a espessura de cada camada deve ser da ordem de 10 a 100Å. Este trabalho apresenta uma proposição de dimensionamento, fabricação e caracterização de MES. Para o dimensionamento, foi feito um programa para o cálculo da refletividade em função do ângulo de incidência, incluindo efeitos de absorção, aplicável tanto a multicamadas periódicas ou não periódicas com número finito de camadas. Amostras de ouro/carbono e prata/carbono foram fabricadas na evaporadora existente no IFQSC, com algumas adaptações. A caracterização foi feita com raio-X duro e ângulos de incidência rasantes, em um difratômetro de triplo eixo especialmente construído para este fim. Finalmente, comparações são feitas entre os parâmetros pré-determinados, os parâmetros obtidos e os teoricamente ajustados

Layered synthetic microstructures (MES) are devices with alternate heavy and low elements layers. For x-ray applications, the thickness of these layers must be of the order of 10 to 100Å. Methods for the design, fabrication and characterization of x-ray optics MES are presented in this work. A computer programme was written for the determination of reflectivity as a function of the incidence angle for any finite sequence of layers. Absorption is taken into account in this calculation. The existing evaporation system in the IFQSC was used, with few modifications, for gold/carbon and silver/carbon MES synthesis. The samples were characterized with a specially built triple-axis diffractometer, using hard x-rays of a laboratory source. The comparison between the aimed parameters and those obtained by fitting theory to the experimental data is presented