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Disertación de Maestría
DOI
10.11606/D.54.1988.tde-27032015-165146
Documento
Autor
Nombre completo
Victor Hugo Etgens
Instituto/Escuela/Facultad
Área de Conocimiento
Fecha de Defensa
Publicación
São Carlos, 1988
Director
Tribunal
Denicolo, Ireno
Rodrigues, Antonio Ricardo Droher
Torriani, Iris C Linares de
Título en portugués
Desenvolvimento e aplicação de câmara topográfica de Lang
Palabras clave en portugués
Não disponível
Resumen en portugués
Este trabalho trata do estudo de monocristais utilizando difração de raios-x (Câmara de Lang) a qual foi aplicada ao estudo de monocristais de silício e de sulfato de triglicina. No estudo de monocristais de silício, abordou-se detalhadamente a técnica de decoração de defeitos utilizando cobre como agente decorador. Foram analisadas topografias obtidas de ambos os cristais visando uma descrição qualitativa da perfeição cristalina dos mesmos
Título en inglés
Not available
Palabras clave en inglés
Not available
Resumen en inglés
The porpouse of this work is to study single crystals using x-ray diffraction techniques. Na x-ray topographic camera (Lang camera) was developed and applied to study silicon and triglicine sulfate single crystals. Copper decoration was used to reveal deffects in silicon crystals. The topographies obtained from both crystals were analized for an qualitative description of their crystalline perfection
 
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VictorHugoEtgensM.pdf (4.80 Mbytes)
Fecha de Publicación
2015-03-31
 
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