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Dissertação de Mestrado
DOI
https://doi.org/10.11606/D.85.2018.tde-14062018-103718
Documento
Autor
Nome completo
André Santos Barros da Silva
E-mail
Unidade da USP
Área do Conhecimento
Data de Defesa
Imprenta
São Paulo, 2018
Orientador
Banca examinadora
Martinez, Luis Gallego (Presidente)
Brito, Giancarlo Esposito de Souza
Saeki, Margarida Juri
Título em português
Desenvolvimento de ferramentas computacionais para análise de perfis de difração de raios X
Palavras-chave em português
microdeformação
Python
Scherrer
Single-Line
tamanhos médios de cristalitos
Warren-Averbach
Williamson-Hall
Resumo em português
Neste trabalho foi desenvolvido um conjunto de ferramentas computacionais, em linguagem de programação Python, para a análise de perfis de difração de raios X, tanto para o estudo quanto para obtenção dos valores microestruturais como tamanhos médios de cristalitos e microdeformações, através de dos métodos de: Scherrer, Single-Line, Williamson-Hall e Warren-Averbach. Para aplicar os métodos de análise de perfis, foram também implementados métodos de remoção da contribuição instrumental pelo método de Stokes e ajuste de funções, remoção de ruídos pelo método de Savitzky-Golay, correção da radiação de fundo pelo método de ajuste linear, correção do fator de Lorentz-Polarização e correção do dubleto Kalfa2 .
Título em inglês
Development of computational tools for analysis of X-ray diffraction profiles
Palavras-chave em inglês
crystal size
Python
Scherrer
Single-Line
stress
Warren-Averbach
Williamson-Hall
Resumo em inglês
In this work, a set of computational tools was developed, in the Python programming language, for the analysis of X-ray diffraction profiles, both for the study and for obtaining the microstructural values, as well as the mean values of crystallites and microdeformations, using Scherrer, Single-Line, Williamson-Hall and Warren-Averbach. To apply the methods of profile analysis, methods were also implemented for the removal of instrumental contributions by the Stokes method and adjustment of functions, removal by the Savitzky-Golay method, correction of the background radiation by the linear adjustment method, correction of the factor of Lorentz-Polarization and correction of dubleto Kalfa2 .
 
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Data de Publicação
2018-07-12
 
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